行業資訊
蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB-SEM細胞檢測方案
蔡司聚焦離子束掃描電鏡Focused lon Beam SEM
當需要對細胞器等微小生物結構
進行三維高分辨成像與分析的時候
我們可以使用FIB-SEM
該技術利用高能聚焦的離子束對樣品上的微小區域進行精密刻蝕，逐層刻蝕樣品橫切面，不斷地暴露出新鮮切面，并使用電子束對新鮮切面實現連續成像，在x、y、z三個維度上同時具有納米級別的分辨率，是進行亞細胞器級別精細結構三維成像分析的最佳選擇。
蔡司Crossbeam系列FIB-SEM提供穩定的三維成像，并輔助多項智能化功能設計，讓整體工作流程簡單、智能、易用。
冷凍聚焦離子束掃描電鏡Cryo FIB-SEM
當需要對化學試劑處理
敏感的生物結構
進行自然狀態成像的時候
我們可以使用cryo FIB-SEM
該方法在全程冷凍的條件下對樣品成像，可以有效的避免敏感的生物結構在經過常規化學處理的過程中遭到破壞，甚至形成人造偽影，最大程度獲得樣品的真實三維結構信息。
蔡司Crossbeam系列FIB-SEM配備冷凍傳輸系統，-機多用，均可做常溫和冷凍FIB-SEM兩用。
優越的鏡筒設計讓未經過任何染色的生物結構也能被呈現得清清楚楚，是進行冷凍三維超微結構的優質選擇。
